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告知・案内

「平成27年度表面分析セミナー ポリキャピラリーによるμ-XRFによる高感度・高速マッピング!」のご案内

2015年11月19日

しまね産業振興財団から、下記の通り案内がありました。


 この度、当財団では、製造業において工程管理上、重要な異物の特定および不良品の
原因究明に関して、表面分析をテーマとしてセミナーを開催いたします。

具体的には最新型の微小部蛍光X線分析装置(μ-XRF装置)を活用して基板等の
有害金属の濃度測定、金属メッキ厚の測定等について、測定事例を交えながら
判りやすくご紹介いたします。
また、最新型の微小部蛍光X線分析装置の見学も予定しております。

日時:平成27年12月4日(金) 14:00-16:00
場所:テクノアークしまね 2Fプロジェクト室(松江市北陵町1番地)

【詳細・申込書は下記URLより】
http://www.joho-shimane.or.jp/docs/2015102800012/

ぜひとも関係する企業様へご案内いただきますようよろしくお願い
申し上げます。

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