• 初めての方へ
• お問い合わせ
• よくある質問

島根県産業技術センターから下記のとおり案内がありました。


　さて、下記にてセミナーを開催しますので、ご案内いたします。

－ 新規導入装置のご紹介と実習－
■「過渡熱抵抗測定装置」測定技術セミナーを開催します。
http://www.shimane-iit.jp/oshirase/140307_T3Ster.htm

チラシ
http://www.shimane-iit.jp/oshirase/documents/T3Ster_Flyer_rev4.pdf
申込書
http://www.shimane-iit.jp/oshirase/documents/0307fax.doc

■日 時
平成２６年３月７日（金） １０：００～１２：００ 概要、事例説明
　　　　　　　　　　　　　　　１３：００～１７：００ 実習
■会 場
テクノアークしまね （松江市北陵町1番地）
■申込方法
・平成２６年２月２８日（金）までに、参加申込書（Word）によりお申し込みください。
・参加費は無料です。

≪過渡熱抵抗測定装置 T3Ster/TeraLED≫

　非破壊でLSI、MOSFET、IGBT、LEDの熱抵抗／熱容量を測定します。
　本装置は、電子機器や電子部品の熱評価を行う装置です。
半導体部品、製品それぞれのレベルで過渡熱抵抗測定、およびその結果から熱経路上の熱構造を構造関数グラフにより可視化可能です。
また、LED評価用積分球を備え、光束の温度依存性、発光効率とジャンクション温度の関係などの測定が可能です。

　装置の特徴としては、全体の熱抵抗だけではなく、どの部位でどのくらいの抵抗になっているかという情報も得られることであり、部材・形状の選定等々において有用と思います。
　また例えば寿命試験前後で測定を行い、結果を比較することでどの部位が劣化しているか（＝熱抵抗が増大しているか）？を評価したりと、いろいろな使い方ができると思います。

　本装置は、比較的近年発売されたもので、公設試験場としては、名古屋市に続いて２箇所目（ＬＥＤ用に大型積分球を取り付けた装置としては日本初）というものであり、大手メーカさんにも次々と導入され始めているという注目の装置です。

　ご興味を持って頂けるようであれば、ぜひご参加お願いします。